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반도체 - 박막 별 적용 Process Gas
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박막(반응생성물) |
Process Gas |
Process Gas 특성 |
부산물 |
절연막 |
SiO2 |
SiH4 |
발화성,독성,악취 |
HCl(부식성) |
PSG |
SiO2원료 |
발화성,독성,자극취 |
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BPSG(SiO2,P2O5,B2O3) |
PSG원료 |
발화성,독성,자극취 |
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Si3N4 |
SiH4 |
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NH4Cl |
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Ta2O5 |
TaCl5+N2O+H2 |
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배선 |
Al |
Al(C4H9)3 |
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W |
WF6+H2 |
독성,부식, 자극취 |
HF(독성) |
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게이트전극 |
WSi |
WF6+SiH4+H2 |
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차폐막 |
TiN |
N2 |
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반도체막 |
Si |
SiH4 |
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GaAs |
Ga(C2H5)3+AsH3 |
맹독성,자극취 |
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반도체공정 별 가스
식각공정 종류 및 Gas
반도체 주요 제조공정 및 장비 특성
반도체 주요 공정 가스(Process Gas) 및 허용농도
반도체 - 박막 별 적용 Process Gas
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